半导体产品检测

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检测产品范围

金属材料及零部件、塑胶材料及零部件、电子元器件、电子组件、LED元件等内部的裂纹、异物的缺陷检测,BGA、线路板等内部位移的分析;判别空焊,虚焊等BGA焊接缺陷,微电子系统和胶封元件,电缆,装具,塑料件内部情况分析。IC、BGA、PCB/PCBA、表面贴装工艺焊接性检测等

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常见检测项目

元素含量----银,铝,砷,金,硼,钡,铋,钙,镉,铈,钴,铬,铜,镝,铕,铁, 镓,铪,汞,铱,钾,镧,锂,镁,锰,钼,钠,铌,镍,锇,磷,铅,等。 离子鉴定----氯离子,磷酸根离子,硫酸根离子,硝酸根离子,铵根离子。 成分分析----定性分析,折光率,水分,色度,PH,密度,固含量,粘度,电导率,表面张力等 。 可靠性试验----高低温试验,干燥高温试验,稳态湿热环境试验,温度循环试验,盐雾试验,防尘试验,雨淋试验,腐蚀性气体环境试验,氙灯老化试验,紫外老化试验,快速温变试验,臭氧老化试验,高低温冲击试验,化学液体腐蚀试验等。 物理性能----材料强度,振动试验,机械冲击试验,膨胀系数,电阻率;热导率等。 其他指标----定性分析,折光率,水分,色度,PH,密度,固含量等。

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常用检测标准

GB/T 15872-2013 半导体设备电源接口

GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法

GB/T 12560-1999 半导体器件 分立器件分规范

GB/T 13422-2013 半导体变流器 电气试验方法

GB/T 15291-2015 半导体器件 第6部分:晶闸管

GB/T 16528-1996 压敏电阻器用氧化锌陶瓷材料

GB/T 15529-1995 半导体发光数码管空白详细规范

GB/T 15649-1995 半导体激光二极管空白详细规范

GB/T 15652-1995 金属氧化物半导体气敏元件总规范

GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法

GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分:总则

GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法

GB/T 15878-2015 半导体集成电路 小外形封装引线框架规范

GB/T 14862-1993 半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法

GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范(可供认证用)

GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路

GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路

 

GB/T 15877-2013 半导体集成电路 蚀刻型双列封装引线框架规范

GB/T 17573-1998 半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则

GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理

GB/T 14129-1993 半导体集成电路TTL电路系列和品种 PAL系列的品种

GB/T 15876-2015 半导体集成电路 塑料四面引线扁平封装引线框架规范

GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理

GB/T 15651-1995 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件

GB/T 16525-2015 半导体集成电路 塑料有引线片式载体封装引线框架规范

GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

GB/T 13539.4-2016 低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求

GB/T 14114-1993 半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理

GB/T 14119-1993 半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器 空白详细规范(可供认证用)

GB/T 12750-2006 半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)

GB/T 17950-2000 半导体变流器 第6部分:使用熔断器保护半导体变流器防止过电流的应用导则

GB/T 13150-2005 半导体器件 分立器件 电流大于100A、环境和管壳额定的双向三级晶闸管空白详细规范

GB/T 13062-2018 半导体器件 集成电路 第21-1部分:膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)

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